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正式揭穿涂層鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的準(zhǔn)確性簡(jiǎn)單易懂,不曉得就可遺憾了

更新時(shí)間:2020-02-17      點(diǎn)擊次數(shù):1269

1.基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變動(dòng)的影響(在實(shí)際運(yùn)用中,低碳鋼磁性的變動(dòng)可以認(rèn)為是輕微的),為了防止熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具備相似性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)涂層鍍層測(cè)厚儀實(shí)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件實(shí)行校準(zhǔn)。
2.基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材質(zhì)成分及熱處理方式相關(guān)。運(yùn)用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器實(shí)行校準(zhǔn)。
3.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4.邊緣效應(yīng)
涂層鍍層測(cè)厚儀對(duì)試件外表面形狀的陡變敏感。因而在接近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處實(shí)行測(cè)量是不牢靠的。
5.曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少顯著地增大。因而,在彎曲試件的外表面上測(cè)量是不靠譜的。
6.試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因而在這些試件上不能測(cè)出正確的數(shù)據(jù)。
7.表面糙粗糙度
基體金屬和覆蓋層的外表面毛糙程度對(duì)測(cè)量有影響。毛糙程度增大,影響增大。毛糙外表面會(huì)致使系統(tǒng)誤差和偶爾誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同地方上應(yīng)添加測(cè)量的次數(shù),以克制這種偶爾誤差。假如基體金屬毛糙,還必需在未涂覆的毛糙度相似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校正涂層鍍層測(cè)厚儀的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有侵蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校正涂層測(cè)厚儀的零點(diǎn)。
8.磁場(chǎng)
四周各種電氣設(shè)施所發(fā)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)重大地預(yù)擾磁性法測(cè)厚工作。
9.附著物質(zhì)
涂層鍍層測(cè)厚儀對(duì)那些阻礙測(cè)頭與覆蓋層外表面嚴(yán)密接觸的附著物質(zhì)敏感,因而,必需消除附著物質(zhì),以保障儀器測(cè)頭和被測(cè)試件外表面直接接觸。
10.測(cè)頭壓力和側(cè)頭取向
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因而,要維持壓力恒定。測(cè)頭的安放方式對(duì)測(cè)量有影響。涂層鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量中,該當(dāng)使測(cè)頭與試樣外表面維持垂直。

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